薄膜材料分析儀 多晶納米級薄膜樣品檢測在X射線(xiàn)光束通過(guò)索拉狹縫、發(fā)散狹縫照射在樣品上，樣品臺位于測角儀中心，基于反射幾何θs-θd，X射線(xiàn)光束在滿(mǎn)足布拉格定律時(shí)，在特定的方向上發(fā)生衍射現象，經(jīng)過(guò)防散射狹縫、索拉狹縫、接收狹縫到達X射線(xiàn)探測器上，最終經(jīng)過(guò)數據處理系統在分析軟件上展現出采集的衍射圖譜。

高分辨率薄膜衍射儀 定性分析在X射線(xiàn)光束通過(guò)索拉狹縫、發(fā)散狹縫照射在樣品上，樣品臺位于測角儀中心，基于反射幾何θs-θd，X射線(xiàn)光束在滿(mǎn)足布拉格定律時(shí)，在特定的方向上發(fā)生衍射現象，經(jīng)過(guò)防散射狹縫、索拉狹縫、接收狹縫到達X射線(xiàn)探測器上，最終經(jīng)過(guò)數據處理系統在分析軟件上展現出采集的衍射圖譜。

煅燒氧化鋁晶型轉化率分析儀XRD在X射線(xiàn)光束通過(guò)索拉狹縫、發(fā)散狹縫照射在樣品上，樣品臺位于測角儀中心，基于反射幾何θs-θd，X射線(xiàn)光束在滿(mǎn)足布拉格定律時(shí)，在特定的方向上發(fā)生衍射現象，經(jīng)過(guò)防散射狹縫、索拉狹縫、接收狹縫到達X射線(xiàn)探測器上，最終經(jīng)過(guò)數據處理系統在分析軟件上展現出采集的衍射圖譜。

臺式XRD X射線(xiàn)衍射儀 鈦白粉測定在X射線(xiàn)光束通過(guò)索拉狹縫、發(fā)散狹縫照射在樣品上，樣品臺位于測角儀中心，基于反射幾何θs-θd，X射線(xiàn)光束在滿(mǎn)足布拉格定律時(shí)，在特定的方向上發(fā)生衍射現象，經(jīng)過(guò)防散射狹縫、索拉狹縫、接收狹縫到達X射線(xiàn)探測器上，最終經(jīng)過(guò)數據處理系統在分析軟件上展現出采集的衍射圖譜。

國產(chǎn)臺式XRD 多晶粉末衍射儀在X射線(xiàn)光束通過(guò)索拉狹縫、發(fā)散狹縫照射在樣品上，樣品臺位于測角儀中心，基于反射幾何θs-θd，X射線(xiàn)光束在滿(mǎn)足布拉格定律時(shí)，在特定的方向上發(fā)生衍射現象，經(jīng)過(guò)防散射狹縫、索拉狹縫、接收狹縫到達X射線(xiàn)探測器上，最終經(jīng)過(guò)數據處理系統在分析軟件上展現出采集的衍射圖譜。

便攜式X射線(xiàn)衍射儀 XRD粉末衍射儀在X射線(xiàn)光束通過(guò)索拉狹縫、發(fā)散狹縫照射在樣品上，樣品臺位于測角儀中心，基于反射幾何θs-θd，X射線(xiàn)光束在滿(mǎn)足布拉格定律時(shí)，在特定的方向上發(fā)生衍射現象，經(jīng)過(guò)防散射狹縫、索拉狹縫、接收狹縫到達X射線(xiàn)探測器上，最終經(jīng)過(guò)數據處理系統在分析軟件上展現出采集的衍射圖譜。

多晶粉末X射線(xiàn)衍射儀在X射線(xiàn)光束通過(guò)索拉狹縫、發(fā)散狹縫照射在樣品上，樣品臺位于測角儀中心，基于反射幾何θs-θd，X射線(xiàn)光束在滿(mǎn)足布拉格定律時(shí)，在特定的方向上發(fā)生衍射現象，經(jīng)過(guò)防散射狹縫、索拉狹縫、接收狹縫到達X射線(xiàn)探測器上，最終經(jīng)過(guò)數據處理系統在分析軟件上展現出采集的衍射圖譜。

X射線(xiàn)多晶粉末衍射儀在X射線(xiàn)光束通過(guò)索拉狹縫、發(fā)散狹縫照射在樣品上，樣品臺位于測角儀中心，基于反射幾何θs-θd，X射線(xiàn)光束在滿(mǎn)足布拉格定律時(shí)，在特定的方向上發(fā)生衍射現象，經(jīng)過(guò)防散射狹縫、索拉狹縫、接收狹縫到達X射線(xiàn)探測器上，最終經(jīng)過(guò)數據處理系統在分析軟件上展現出采集的衍射圖譜。

X射線(xiàn)粉晶衍射儀 XRD測試分析儀在X射線(xiàn)光束通過(guò)索拉狹縫、發(fā)散狹縫照射在樣品上，樣品臺位于測角儀中心，基于反射幾何θs-θd，X射線(xiàn)光束在滿(mǎn)足布拉格定律時(shí)，在特定的方向上發(fā)生衍射現象，經(jīng)過(guò)防散射狹縫、索拉狹縫、接收狹縫到達X射線(xiàn)探測器上，最終經(jīng)過(guò)數據處理系統在分析軟件上展現出采集的衍射圖譜。