X射線(xiàn)衍射儀（XRD）測試分析介紹

XRD的基本原理：

X射線(xiàn)與物質(zhì)作用時(shí)，就其能量轉換而言，一般分為三部分，其中一部分被散射，一部分被吸收，一部分通過(guò)物質(zhì)繼續沿原來(lái)方向傳播。散射的X射線(xiàn)與入射X射線(xiàn)波長(cháng)相同時(shí)對晶體將產(chǎn)生衍射現象，即晶面間距產(chǎn)生的光程差等于波長(cháng)的整數倍時(shí)。將每種晶體物質(zhì)的衍射花樣與標準衍射花樣對比，利用三強峰原則，即可鑒定出樣品中存在的物相。

X-射線(xiàn)的產(chǎn)生是由在X-射線(xiàn)管（真空度10-4Pa）中有30-60KV的加速電子流，沖擊金屬（如純Cu或Mo）靶面產(chǎn)生。常用的射線(xiàn)是MoKα射線(xiàn)，包括Kα1和Kα2兩種射線(xiàn)（強度2:1），波長(cháng)為71.073pm。

應用：主要用于物相分析、晶體結構分析、織構分析，晶胞參數、結晶度、晶型含量等的測定