X射線(xiàn)衍射儀介紹

儀器采用*技術(shù)制造，測角儀測角準確度與精確度均達到*水平。光源與探測器能長(cháng)時(shí)間穩定工作，保證衍射峰位、峰形和強度測量準確、精確。進(jìn)行物相結構分析，包括：物相含量、晶粒大小判斷、結晶度、奧氏體含量、晶胞測定、二類(lèi)應力計算、衍射線(xiàn)條指標化、物相結構等分析；薄膜材料分析，小角粒徑分析等。儀器包括高穩定性X射線(xiàn)發(fā)生器、高精密測角儀、封閉正比探測器（或SDD探測器、或一維高速半導體陣列探測器）、數據處理軟件、相關(guān)應用軟件等。

儀器特點(diǎn)
長(cháng)壽命X射線(xiàn)管：金屬陶瓷X射線(xiàn)管，具有散熱好、運行功率高（40kV×40mA）、使用壽命長(cháng)特點(diǎn)
高精密測角儀：衍射角驅動(dòng)采用伺服電機驅動(dòng)+光學(xué)編碼控制技術(shù)，具有定位準確、測量精度高
測角儀內藏式設計，使儀器表現更整潔、美觀(guān)、大方，在衍射角度測量范圍內，衍射角度線(xiàn)性度小于0.02°
拓寬衍射儀應用領(lǐng)域的附件齊全：高溫、低溫、多功能等衍射儀各種附件安裝實(shí)現“即插即用",軟件自動(dòng)識別控制技術(shù)，方便操作人員對儀器的使用
射線(xiàn)防護安全可靠：X射線(xiàn)散射線(xiàn)防護裝置更安全可靠，樣品測量時(shí)射線(xiàn)防護門(mén)自動(dòng)禁止打開(kāi)，雙重防護，任何情況下都能避免操作人員受到散射線(xiàn)輻射

應用領(lǐng)域
未知樣品中物相鑒定
混合樣品中已知相定量分析
晶體結構解析（Rievtveld分析）
非常規條件下晶體變化（高低溫）
薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度、電荷密度
金屬材料織構、應力分析