全新上照式設計,微聚焦,搭載可編程自動(dòng)位移平臺,無(wú)人值守、自動(dòng)檢測多樣品,且更加智能化,采用自主研發(fā)的AI影像識別功能可完成智能尋點(diǎn),自動(dòng)匹配測試。對各超大異形件及微小密集型多點(diǎn)的測試更加高效、智能。
XTD-200是一款全自動(dòng)型鍍層測厚儀/膜厚測試儀/光譜測厚儀,全新上照式設計,微聚焦,搭載可編程自動(dòng)位移平臺,無(wú)人值守、自動(dòng)檢測多樣品,且更加智能化,采用自主研發(fā)的AI影像識別功能可完成智能尋點(diǎn),自動(dòng)匹配測試。對各超大異形件及微小密集型多點(diǎn)的測試更加高效、智能。
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