XAD-200全自動(dòng)多功能膜厚分析儀推薦

全新上照式設計，搭載全自動(dòng)移動(dòng)平臺和影像識別功能，既能檢測納米級厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚，也可滿(mǎn)足微區RoHS檢測及全元素成分分析。

1）搭載微聚焦加強型X射線(xiàn)發(fā)生器和*光路轉換聚焦系統，最小測量面積達0.03mm2

2）擁有無(wú)損變焦檢測技術(shù)，手動(dòng)變焦功能，可對各種異形凹槽件進(jìn)行無(wú)損檢測，凹槽深度范圍0-90mm

3）核心EFP算法，可對多層多元素，包括同種元素在不同層都可快、準、穩的做出數據分析（釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB，精準檢測第一層Ni和第三層Ni的厚度）

4）配備全自動(dòng)可編程移動(dòng)平臺，可實(shí)現無(wú)人值守，對成百上千個(gè)樣品進(jìn)行全自動(dòng)檢測

5）涂鍍層分析范圍：鋰Li（3）- 鈾U（92）

6）成分分析范圍：鋁Al（13）- 鈾U（92）

7）RoHS、鹵素有害元素檢測

8）人性化封閉軟件，自動(dòng)判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作

9）標配四準直器自動(dòng)切換

10）配有微光聚集技術(shù)，最近測距光斑擴散度小于10%