XTU-4C專(zhuān)業(yè)性能型膜厚儀介紹

下照式微聚焦多準型，搭載*EFP算法軟件和微光聚集技術(shù)，配合切換準直器在檢測各微小及凹凸面樣品時(shí)檢出限更低，儀器壽命更長(cháng)，性能更穩定。

XTU-4C是一款專(zhuān)業(yè)性能型鍍層測厚儀/膜厚測試儀/光譜測厚儀，下照式微聚焦多準型設計，搭載*EFP算法軟件和微光聚集技術(shù)，配合切換準直器在檢測各微小及凹凸面樣品時(shí)檢出限更低，儀器壽命更長(cháng)，性能更穩定。

微聚焦加強型X射線(xiàn)裝置：可測試各類(lèi)極微小的樣品，即使檢測面積為0.003mm2的樣品也可輕松、精準檢測

變焦裝置及位置補償算法：可對各種異性凹槽進(jìn)行檢測，凹槽深度測量范圍可達0-30mm

自主研發(fā)EFP算法：多層多元素、各種元素及有機物，甚至有同種元素在不同層也可精準測量

微米級移動(dòng)精度：高精密XY移動(dòng)滑軌，實(shí)現多點(diǎn)位、多樣品的精準位移和同時(shí)檢測，移動(dòng)精度可達5um，輕松應對極微小樣品檢測

*解譜技術(shù)：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限