XU-100膜厚測試儀介紹

全面升級XU-100 X熒光光譜測厚儀高精尖檢測技術(shù)，搞定企業(yè)品質(zhì)管控！XU-100是一款高性?xún)r(jià)比型鍍層測厚儀/膜厚測試儀/光譜測厚儀，采用下照式C型腔體設計，搭配微聚焦X射線(xiàn)發(fā)生器和高集成垂直光路系統，以及高敏變焦測距裝置，對各種大小異形件都可快速、精準、無(wú)損測量。?檢測各種金屬鍍層，檢出限可達0.005μm，最小測量面積0.2mm2，凹槽深度測量范圍可達0-30mm，是一款測量鍍層厚度性?xún)r(jià)比高。

XU-100是一款高性?xún)r(jià)比型鍍層測厚儀/膜厚測試儀/光譜測厚儀，采用下照式C型腔體設計，搭配微聚焦X射線(xiàn)發(fā)生器和高集成垂直光路系統，以及高敏變焦測距裝置，對各種大小異形件都可快速、精準、無(wú)損測量。?檢測各種金屬鍍層，檢出限可達0.005μm，最小測量面積0.2mm2，凹槽深度測量范圍可達0-30mm，是一款測量鍍層厚度性?xún)r(jià)比高、適用性強的機型。

應用行業(yè)：

常見(jiàn)樣品：