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    工業(yè)CT瓷器、鑄件內部缺陷X-RAY檢測設備

    簡(jiǎn)要描述:工業(yè)CT瓷器、鑄件內部缺陷X-RAY檢測設備SMT應用測試,電池行業(yè)測試和鋁鑄件測試。X-ray檢測可以檢測哪些產(chǎn)品呢?SMT,金屬鑄件零部件,半導體芯片等。對于電子元器件,X-ray可以對IC芯片,PCB印刷電路板,PCBA/SMT/BGA焊點(diǎn),鋰電池,IGBT半導體,LED/LCD類(lèi)進(jìn)行檢測。

    • 產(chǎn)品型號:CT 3D X-ray檢測設備
    • 廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
    • 更新時(shí)間:2023-09-18
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    詳細介紹
    品牌日聯(lián)科技價(jià)格區間20萬(wàn)-30萬(wàn)
    產(chǎn)地類(lèi)別國產(chǎn)應用領(lǐng)域醫療衛生,食品,農業(yè),能源,電子
    重量1050KG功率1.0KW
    最大檢測尺寸435MM*385MM尺寸1080*1180*1730

    工業(yè)CT瓷器、鑄件內部缺陷X-RAY檢測設備主要由X射線(xiàn)探傷機、圖像增強器成像單元、計算機圖像處理系統、監控系統、機械系統、電氣控制系統和防護及警示系統等七部分組成,涵蓋了光、機、電三大類(lèi)技術(shù)領(lǐng)域,利用X射線(xiàn)與成像單元相配合,能夠實(shí)時(shí)觀(guān)測到輪轂的檢測圖像,從而判定內部是否存在缺陷及缺陷類(lèi)型和等級。

    工業(yè)CT瓷器、鑄件內部缺陷X-RAY檢測設備高精度智能三維CT測量設備的核心技術(shù)與現有AOI視覺(jué)檢測及X-RAY無(wú)損探傷檢測技術(shù)相比,發(fā)生質(zhì)的飛躍,在重大裝備、航空航天、軍工、核電、半導體、新能源、兵器、船舶等關(guān)鍵領(lǐng)域已突破國際產(chǎn)品壟斷,實(shí)現民族品牌國產(chǎn)高科技測量裝備的規?;瘧?。廣泛應用于汽車(chē)、OLED、PCB&PCBA、FPC、電子電器、電子元器件、鑄件、模具、塑膠材料、醫療器械、科研院所等現代工業(yè)的各個(gè)領(lǐng)域、各個(gè)方面,實(shí)現了對工業(yè)產(chǎn)品的全面覆蓋。

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    據有關(guān)部門(mén)反饋,最近幾年,各種偽劣產(chǎn)品不斷涌入市場(chǎng),給消費者造成不良影響,同時(shí)也影響市場(chǎng)的可信度。隨著(zhù)偽劣商品的投訴案例的增多,監管部門(mén)通過(guò)排查,發(fā)現這些偽劣產(chǎn)品的來(lái)源不僅僅是生產(chǎn)廠(chǎng)家,同時(shí)也有很多中間商通過(guò)翻新品再次向市場(chǎng)投放出售。

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    產(chǎn)品應用:
    ● pcba焊點(diǎn)檢測(BGA 、CSP 、POP等元器件檢測)
    ● 電池(極片焊點(diǎn)缺陷檢測、電芯繞卷情況檢測)
    ● 電子接插件(線(xiàn)束、線(xiàn)纜、插頭等)
    ● 汽車(chē)電子(接插線(xiàn)、儀表盤(pán)等檢測)
    ● 太陽(yáng)能、光伏(硅片焊點(diǎn)檢測)
    ● 半導體(封裝元器件檢測)
    ● LED檢測
    ● 電子模組檢測
    ● 陶瓷制品檢測


    高分辨率三維計算機斷層掃描 & 數字化X光透視系統

    三維計算機斷層掃描
    實(shí)時(shí)高分辨率數字化X光透視
    最高3um分辨率
    最大樣品尺寸:120x120x80 (mm)
    最大樣品重量:5kg

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    工業(yè)CT是什么?

    工業(yè)CT即工業(yè)計算機斷層掃描成像,它能在對檢測物體無(wú)損傷條件下,以二維斷層圖像或三維立體圖像的形式,清晰、準確、直觀(guān)地展示被檢測物體的內部結構、組成、材質(zhì)及缺損狀況。工業(yè)CT的基本原理是依據輻射在被檢測物體中的減弱和吸收特性,同物質(zhì)對輻射的吸收本領(lǐng)與物質(zhì)性質(zhì)有關(guān)。所以,利用放射性核素或其他輻射源發(fā)射出的、具有一定能量和強度的X射線(xiàn),在被檢測物體中的衰減規律及分布情況,就有可能由探測器陳列獲得物體內部的詳細信息,最后用計算機信息處理和圖像重建技術(shù),以圖像形式顯示出來(lái)。

    工業(yè)CT領(lǐng)域常用的兩種掃描方式,即TR方式和RO方式。RO掃描方式無(wú)疑具有更高的射線(xiàn)利用效率,以得到更快的成像速度;然而,TR掃描方式的偽像水平遠低于RO掃描方式的,可以根據樣品大小方便地改變掃描參數(采樣數據密度和掃描范圍),特別是檢測大尺寸樣品時(shí)其*性更加明顯;射線(xiàn)源探測器距離較小,從而提高信號幅度;另外,探測器通道少還有降低系統造價(jià)、便于維護等重要優(yōu)點(diǎn)。TR方式比起RO方式除了必須增加工件掃描運動(dòng)之外,系統設計上也有所不同。同時(shí)具有兩種掃描方式的系統,實(shí)際上還是基于RO方式的結構,在進(jìn)行TR掃描時(shí)只是部分避免了RO掃描的固有缺點(diǎn),如消除年輪狀偽像,并且可以?huà)呙栎^大樣品。但從根本上說(shuō),為了遷就RO掃描幾何條件的要求,往往增加了射線(xiàn)源到探測器的距離,犧牲了一些非常貴的信號強度兩種掃描方式的CT,采用的幾何條件對于TR方式來(lái)說(shuō)很可能不是最佳的。

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    隨著(zhù)工業(yè)CT技術(shù)的快速發(fā)展壯大,工業(yè)CT面臨的對象千差萬(wàn)別,除了對產(chǎn)品進(jìn)行檢測外,還對裝配線(xiàn)進(jìn)行快速檢測,檢測的精度要求越來(lái)越高,同時(shí)伴隨著(zhù)DR成像技術(shù)及三維成像技術(shù)的發(fā)展,對CT的成像速度提出了更高的要求,相應的對CT運動(dòng)控制器控制精度提出了更高的要求,也即對控制系統精度要求更高。更高的控制精度要求就需要了解掃描運動(dòng)對象的對象模型,基于掃描運動(dòng)對象模型分析來(lái)優(yōu)化和改善控制系統的精度。對象模型是通過(guò)對各運動(dòng)軸高精度實(shí)時(shí)測量及分析來(lái)獲得的。在工業(yè)CT的運動(dòng)控制系統中,各運動(dòng)軸基本是閉環(huán)控制,配置了相關(guān)的運動(dòng)行程開(kāi)關(guān)和光柵,基于這些運動(dòng)狀態(tài)測量傳感器,再結合測量裝置可以實(shí)現運動(dòng)軸狀態(tài)信息的測量。因此,為了實(shí)現某些實(shí)際應用場(chǎng)合對工業(yè)CT控制技術(shù)的高精度要求,在工業(yè)CT現有的控制系統基礎上,研究和開(kāi)發(fā)工業(yè)CT運動(dòng)位置狀態(tài)測量與模型識別系統具有重要工程應用價(jià)值和實(shí)際意義。

    型號CT- RMCT1000
    設備尺寸1500mm(L)X800mm(W)X1000mm(H)
    800kg
    鉛房防護、X射線(xiàn)安全互鎖,設計滿(mǎn)足X射線(xiàn)安全使用要求
    機械軸高精度電動(dòng)旋轉及移動(dòng)軸    (X1,Y1,X,Y,R)
    X射線(xiàn)產(chǎn)生封閉式微焦距X射線(xiàn)管
    最高電壓110kV(多種電壓可選)
    成像器高分辨率平板探測器
    1944 x 1536 像素
    成像區域:145.4 x 114.9    mm
    74.8um 像素尺寸
    16bits – 16000灰度
    其它規格平板探測器可選配
    軟件數據采集&3D重構軟件
    三維可視化分析軟件


    工業(yè)CT有哪些優(yōu)勢?

    (1)準確定位,圖像更易識別

    常規射線(xiàn)檢測技術(shù)主要是把三維物體投影到二維平面上,容易造成圖像信息的疊加,如果想要獲得圖像上的信息,沒(méi)有經(jīng)驗的話(huà),對目標進(jìn)行準確定位和定量測量非常困難。工業(yè)CT在對工件進(jìn)行檢測的時(shí)候,能夠給出二維或者三維的圖像,需要測量的目標不會(huì )受到周?chē)毠澨卣鞯恼趽?,所得到的圖像非常容易進(jìn)行識別。從圖像上能直接獲得目標特征的具體空間位置,形狀以及尺寸信息。

    (2)密度分辨能力更高

    工業(yè)CT具有突出的密度分辨能力,高質(zhì)量的CT圖像密度分辨率甚至可達到0.3%,跟常規無(wú)損檢測技術(shù)相比,至少要高一個(gè)數量級。

    (3)動(dòng)態(tài)響應范圍高

    采用高性能探測器的工業(yè)CT,探測器的動(dòng)態(tài)響應范圍可達106以上,遠高于膠片和圖像增強器。

    (4)圖像更易于存儲、傳輸、分析和處理

    由于工業(yè)CT圖像直觀(guān),圖像灰度與工件的材料、幾何結構、組分及密度特性相對應,不僅能得到缺陷的形狀、位置及尺寸等信息,結合密度分析技術(shù),還可以確定缺陷的性質(zhì),使長(cháng)期以來(lái)困擾無(wú)損檢測人員的缺陷空間定位、深度定量及綜合定性問(wèn)題有了更直接的解決途徑。

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