工業(yè)CT和x-ray檢測(cè)設(shè)備的不同應(yīng)用表現(xiàn)

工業(yè)CT掃描檢測(cè)和X射線檢測(cè)是目前常用的無(wú)損檢測(cè)方案，兩種方案檢測(cè)都是以X射線的高穿透性穿透物質(zhì)原理來(lái)探測(cè)物體內(nèi)部的結(jié)構(gòu)。X射線具有十分強(qiáng)力的穿透性，能夠透過(guò)很多物質(zhì)，利用這種特性而誕生了許多的無(wú)損檢測(cè)設(shè)備。

　　工業(yè)CT掃描是結(jié)合X-ray檢測(cè)的方法延伸出來(lái)的一種新的方向，CT即三維X射線掃描，在進(jìn)行X射線掃描檢測(cè)的時(shí)候，講待測(cè)的物體進(jìn)行旋轉(zhuǎn)掃描檢測(cè)，收集其每個(gè)角度下的掃描成像，然后利用電腦運(yùn)算重構(gòu)出物體的實(shí)體圖像。

由此可以看出，X射線的檢測(cè)結(jié)果是二維圖像，工業(yè)CT則是充分利用了計(jì)算機(jī)技術(shù)，將各個(gè)面的二維圖像重組成了三維圖像，同時(shí)還原了物體內(nèi)部的結(jié)構(gòu)。從技術(shù)上說(shuō)：CT斷層掃描技術(shù)是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)和無(wú)損評(píng)價(jià)的最佳手段，工業(yè)CT利用斷層成像技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了產(chǎn)品無(wú)損可視化測(cè)量，組裝瑕疵和材料分析，不受周圍細(xì)節(jié)特征的遮擋，可直接獲得目標(biāo)特征的空間位置、形狀及尺寸信息。