X射線(xiàn)熒光無(wú)損鍍層膜厚儀

X射線(xiàn)熒光無(wú)損鍍層膜厚儀多年X熒光測厚儀經(jīng)驗，專(zhuān)門(mén)研發(fā)的一款下照式結構的鍍層測厚儀。對工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行精準檢測?？蓮V泛應用于光伏行業(yè)、五金衛浴、電子電氣、航空航天、磁性材料、汽車(chē)行業(yè)、通訊行業(yè)等領(lǐng)域。

X射線(xiàn)熒光無(wú)損鍍層膜厚儀是一種對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層進(jìn)行厚度測量的儀器，測量的對象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等（在有關(guān)國家和國際標準中稱(chēng)為覆層（coating））。 覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的手段。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。
應用領(lǐng)域
電鍍行業(yè)
五金衛浴
電子電器
磁性材料
航天新能源
汽車(chē)制造
貴金屬鍍飾......

性能介紹      
1）搭載微聚焦加強型X射線(xiàn)發(fā)生器和*光路轉換聚焦系統
2）擁有無(wú)損變焦檢測技術(shù)，手動(dòng)變焦功能，可對各種異形凹槽件進(jìn)行無(wú)損檢測，凹槽深度范圍0-30mm
3）核心EFP算法，可對多層多元素，包括同種元素在不同層都可快、準、穩的做出數據分析（釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB，精準檢測第一層Ni和第三層Ni的厚度）
4）配備高精密微型移動(dòng)滑軌，可實(shí)現多點(diǎn)位、多樣品的精準位移和同時(shí)檢測
5）可同時(shí)分析23個(gè)鍍層，24種元素，測量元素范圍：氯Cl（17）- 鈾U（92），涂鍍層分析范圍：鋰Li（3）- 鈾U（92），涂鍍層檢出限：0.005μm
6）人性化封閉軟件，自動(dòng)判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作
7）配有微光聚集技術(shù)，最近測距光斑擴散度10%

X光譜電鍍層膜厚儀設計亮點(diǎn)
全新的下照式設計，一鍵式的按鈕，讓您的鼠標鍵盤(pán)不再成為必須，極大減少您擺放樣品的時(shí)間。
全新的光路系統，大大減少了光斑的擴散，實(shí)現了對更小產(chǎn)品的測試。
搭配高分辨率可變焦攝像頭，配合高性能距離補正算法，實(shí)現了對不規則樣品（如凹凸面，拱形，螺紋，曲面等）的異型測試面的精準測試。

硬件配置
采用高分辨率的SDD探測器，分辨率高達140EV進(jìn)口的大功率高壓，讓Ag,Sn等鍍層的測量能更加穩定。
配備微聚焦的X光管，猶如給發(fā)動(dòng)機增加了渦輪增壓，讓數據的準確性更上層樓。
多種準直器可搭配選擇：0.1*0.2mm；Φ0.15mm;Φ0.2mm；Φ0.3mm。貼心打造出適合您的那一款。

工作原理：

根據熒光譜線(xiàn)元素能量位置以及其強度確定鍍層的組成以及厚度。

用X熒光光譜儀測試金屬鍍層精確，測試范圍廣，并且細微的面積以及超薄的鍍層都可以測試。

綜上所述，對于金屬電鍍鍍層的膜厚測試，X射線(xiàn)熒光是快速無(wú)損檢測電鍍膜厚的*。

X射線(xiàn)或粒子射線(xiàn)經(jīng)物質(zhì)照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩定的狀態(tài)。從不穩定狀態(tài)要回到穩定狀態(tài)

此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來(lái)，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來(lái)。

熒光X射線(xiàn)鍍層厚度測量?jì)x的原理就是測量這被釋放出來(lái)的熒光的能量及強度

來(lái)進(jìn)行鍍層厚度的測量及分析.

軟件界面
人性化的軟件界面，讓操作變得更加便捷。曲線(xiàn)的中文備注，讓您的操作更易上手。儀器硬件功能的實(shí)時(shí)監控，讓您的使用更加放心。

檢測電子電鍍,五金電鍍,PCB板，LED支架半導體連接器等電鍍層厚度。

測量鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等

可測單層、雙層、多層、合金鍍層測量，不限底料

X-RAY膜厚儀-電鍍測厚儀

可測單鍍層,雙多鍍層,多鍍層及合金鍍層

鍍銀測量范圍0.1-50um

鍍鎳測量范圍0.5-30um

鍍銅測量范圍0.5-30um

鍍錫測量范圍0.5-50um

鍍金測量范圍0.03-6um

鍍鋅測量范圍1-30um

鋅鎳合金測量范圍1-25um

鍍鉻測量范圍0.5-25um