工業(yè)CT檢測在電子電器半導體產(chǎn)品中的應(yīng)用

瀏覽次數(shù)：448發(fā)布日期：2023-09-15

與傳統(tǒng)的無損檢測手段如X-RAY和超聲檢測相比，X射線斷層掃描技術(shù)即工業(yè)CT更具優(yōu)勢。工業(yè)CT能夠?qū)崿F(xiàn)三維展示所有內(nèi)部的缺陷的所有細節(jié)，包括缺陷的尺寸、形貌和其他相關(guān)信息，自動孔隙計算，壁厚測試和CAD對比。通過對樣品的不同方向的不同截面進行自檢，從而實現(xiàn)質(zhì)量檢驗。對比不同制造工藝階段后樣品內(nèi)部組分的變化。

以一個電子產(chǎn)品為例，展現(xiàn)工業(yè)CT的功能：

1.X射線透照（類似胸透，二維檢測，存在信息疊加的劣勢）；

2.工業(yè)CT檢測-某一個方向的某一層切片，展示內(nèi)部結(jié)構(gòu)（工業(yè)CT檢測能夠得到整個三維數(shù)據(jù)體，并可以通過任意方向進行虛擬切割得到任意剖切面的內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖）；

3.工業(yè)CT-孔隙率統(tǒng)計（孔隙率分析，識別到材料內(nèi)部的孔隙并進行分類，根據(jù)孔隙的體積，分別用不同顏色進行渲染，從而直觀的展示缺陷的空間位置、形貌和尺寸；除此之外還能得到孔隙的表面積、形貌參數(shù)如球度以及其他信息）；

4.工業(yè)CT-壁厚分析（壁厚分析，計算材料不同位置的壁厚尺寸，壁厚較大的用紅色顯示，壁厚尺寸較小的則用藍色表示。）；

5.工業(yè)CT-CAD對比（通過CT掃描，能夠得到樣品的3D數(shù)模，把樣品的設(shè)計圖CAD文件導入軟件，即可實現(xiàn)CAD對比，公差較小用綠色進行展示，而如果尺寸公差較大，則用藍色和紅色進行展示。

顯然，在合金材料檢測中，工業(yè)CT都是一種非常有效的檢測手段，無論對于合金材料微觀機制研究、合金材料工藝優(yōu)化、合金材料性能檢測和合金失效分析等都是非常重要的檢測手段。

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