EDX 2000A膜厚測厚儀介紹

EDX2000A能量色散X熒光光譜儀(全自動(dòng)微區膜厚測試儀)對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡(jiǎn)單及復雜形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對焦精準分析，滿(mǎn)足半導體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區鍍層厚度測試需求。通過(guò)自動(dòng)化的X軸Y軸Z軸的三維移動(dòng)，雙激光定位和保護系統。

應用領(lǐng)域
電鍍行業(yè)、電子通訊、航天新能源、五金衛浴、電器設備
汽車(chē)制造、磁性材料、貴金屬電鍍、高校及科研院所等

超高硬件配置
采用Fast-SDD探測器,高達129eV分辨率,能精準地解析每個(gè)元素的特征信號,針對復雜底材以及多層復雜鍍層,同樣可以輕松測試。
搭配大功率X光管,能很好的保障信號輸出和激發(fā)的穩定性,減少儀器故障率。
高精度自動(dòng)化的X、Y、Z軸的三維聯(lián)動(dòng),更精準快速地完成對微小異型(如弧形、拱形、螺紋、球面等)測試點(diǎn)的定位。

設計亮點(diǎn)
上照式設計，可適應更多異型微小樣品的測試。相較傳統光路，信號采集效率提升2倍以上?？勺兘垢呔珨z像頭，搭配距離補正系統，滿(mǎn)足微小產(chǎn)品，臺階，深槽，沉孔樣品的測試需求?？删幊套詣?dòng)位移平臺，微小密集型可多點(diǎn)測試，大大提高測樣效率。自帶數據校對系統。

軟件界面
人性化的軟件界面，讓操作變得更加便捷。
曲線(xiàn)的中文備注，讓您的操作更易上手。
儀器硬件功能的實(shí)時(shí)監控，讓您的使用更加放心。