鍍鋅層測厚儀技術(shù)推薦鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法:
光學(xué)顯微鏡法。適用標準為:GB/T6462-2005
利用金相顯微鏡原理,對鍍層厚度進(jìn)行放大,以便準確的觀(guān)測及測量。該方法需要對樣品進(jìn)行破壞性分割,對橫切面進(jìn)行放大測量。
、X-ray法(X射線(xiàn)法)。適用標準為:GB/T16921-2005
庫侖法,此法一般為仲裁方法。適用標準為:GB/T4955-2005
利用適當的電解液陽(yáng)極溶解限定面積的覆蓋層,電解池電壓的急劇變化表明覆蓋層實(shí)質(zhì)上溶解,經(jīng)過(guò)所耗的電量計算出覆蓋層的厚度。因陽(yáng)極溶解的方法不同,被測量覆蓋層的厚度所耗的電量也不同。用恒定電流密度溶解時(shí),可由試驗開(kāi)始到試驗終止的時(shí)間計算;用非恒定電流密度溶解時(shí),由累積所耗電量計算,累積所耗電量由電量計累計顯示。
而X-ray法(X射線(xiàn)法)鍍鋅層測厚儀是目前常用的一種無(wú)損檢測方案,該方法的應用優(yōu)勢為:
X熒光射線(xiàn)(XRF)測厚儀器特點(diǎn)
1、鍍層分析快速、無(wú)損,對樣品無(wú)需任何處理。一般測試一個(gè)點(diǎn)只需要數10秒~3分鐘,分析高。
X熒光分析儀鍍鋅層測厚儀是光物理測量,其對測試樣品不會(huì )產(chǎn)生任何的物理、化學(xué)變化,因此,其屬于無(wú)損測量。同時(shí)對測試的樣品不需要任何處理,分析速度更加快捷。
2、可測試超薄鍍層,如:在測試鍍金產(chǎn)品時(shí),可測試0.01米的鍍層厚度,這是其他測厚設備無(wú)法達到的。
X熒光通過(guò)射線(xiàn)的方式來(lái)檢測鍍層的厚度,因此,其對樣品的表面物質(zhì)測試為靈敏,因此,其非常適合測試超薄鍍層,也是目前超薄鍍層常用的測量方法。
3、可測試多鍍層,分析遠遠高于其他測量方法。
X射線(xiàn)具有一定的穿透能力,因此,在測試鍍層時(shí),它可以穿透多層鍍層,通過(guò)每層鍍層產(chǎn)生的特征X射線(xiàn)計算其厚度,并可分析其鍍層的組成。
4、可分析合金鍍層厚度和成分比,這是其他測厚設備不能做到的。
5、對于樣品可進(jìn)行連續多點(diǎn)測量,適合分析鍍層的厚度分布情況并可以對樣品的復雜面進(jìn)行測量。
由于X熒光的無(wú)損分析方法,同時(shí)儀器高度的自動(dòng)化控制技術(shù),保證測試中可以進(jìn)行連續多點(diǎn)測量,不但提高測試效率,同時(shí)可以分析測試樣的厚度分布情況。
6、對分析的多鍍層每層之間的材料,要求有明顯的區別,即,每層樣品元素有明顯的差別。
由于X熒光是通過(guò)特征X射線(xiàn),對被測樣品進(jìn)行厚度分析的,因此每層鍍層的材料應有明顯的區別。
7、不可以測試超厚樣品,普通金屬鍍層總厚度一般不超過(guò)30微米。根據各種元素的能量不同,測量范圍都不相同,如:
原子序25~40,約0.01~30um原子序41~51,約0.02~70um,但是陶瓷上的涂層因為密度相對普通金屬電鍍工藝,密度會(huì )小,所以可以測試更厚,比如未燒結的MoMn涂層可以測試150微米以上.
8、可以對極小樣品進(jìn)行測試,例如:螺絲、電路板焊盤(pán)、接插件的插針等??梢詫射線(xiàn)照射在樣品的光斑調到很小的地步(可以達到微米級,因此,超小樣品的測試非常容易。
9、鍍鋅層測厚儀屬于對比分析儀器,測試不同的鍍層樣品需要不同的鍍層標樣,雖然有FP法的測試軟件,但在精準測試中,一定需要標準樣品進(jìn)行校對,因此,企業(yè)應用中采用標樣校對的方法是常見(jiàn)的。
10、針對不同的鍍層測試對象,可選擇不同結構的X熒光分析儀器。例如:上照射和下照射的設備;探測器分為正比計數器和半導體探測器的等,他們都有各自的優(yōu)缺點(diǎn)。
2.
鍍鋅層測厚儀的特點(diǎn):
3.1 鍍鋅層測厚儀Think800A是專(zhuān)門(mén)針對鍍層厚度測量、鍍層元素種類(lèi)及含量的快速無(wú)損分析的需求,特設計的一款產(chǎn)品;
3.2 采用上照式結構,以滿(mǎn)足不規則表面樣品的測試要求;
3.3 采用美國型的Si-pin探測器,高分辨率探頭使分析結果更加精準;
3.4 采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測試高度,以滿(mǎn)足不同規格樣品的鍍層測試。同時(shí)定位激光定位光斑,以確保測試點(diǎn)與光斑對齊;
3.5 高移動(dòng)平臺可定位測試點(diǎn),重復定位小于0.005mm;
3.6 內置φ0.1mm的小孔準直器,可以滿(mǎn)足微小測試點(diǎn)的鍍層測試;
3.7 多重防輻射泄露設計,具有良好的射線(xiàn)屏蔽作用;
3.8 內置高移動(dòng)平臺,通過(guò)測試軟件可視化操作:鼠標可控制移動(dòng)平臺,鼠標點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn);
3.9 采用網(wǎng)口傳輸數據,數據傳輸穩定且快。
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