電容器是一種能夠儲藏電荷的元件,也是常用的電子元件之一,在通訊設備、醫療設備、汽車(chē)電子和航空、航天等領(lǐng)域都有著(zhù)廣泛的應用,隨著(zhù)信息技術(shù)和電子設備的快速發(fā)展,電容器需求也呈現出整體上升態(tài)勢。
根據材質(zhì)不同,電容器產(chǎn)品主要可分為鉭電容器、鋁電容器、陶瓷電容器和薄膜電容器等。隨電容器需求擴張和材質(zhì)類(lèi)別的拓展,為進(jìn)一步推動(dòng)電容器檢測技術(shù)的不斷提高與創(chuàng )新,要對電容器進(jìn)行嚴謹的失效分析。
電容器因其使用的材料及其結構不同分為不同的類(lèi)型:鉭電容器、陶瓷電容器、鋁電容器等。每種電容器因其提供的特性而具有特殊的應用。如同三明治一樣,簡(jiǎn)單的電容器是把一個(gè)絕緣體材料夾在兩個(gè)導體之間,通過(guò)導體施加偏置電壓。
在進(jìn)行破壞性分析之前,有必要在損壞電容器的條件下盡可能多的獲取有關(guān)電容器的物理和電性能的數據。無(wú)損檢驗技術(shù)的結果將有助于確定一條能查明導致電容器失效根本原因的途徑。X光作為一種經(jīng)常使用的無(wú)損檢測技術(shù)可以檢查電容器的內部結構及其任何異常狀態(tài)(陽(yáng)極未對準,弱正極或是負極接觸等)。隨著(zhù)X光分辨率的改善和計算機運行速度加快,X射線(xiàn)無(wú)損檢測設備成為了分析電容器內部結構的一種有益的工具。
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