日聯(lián)科技經(jīng)過(guò)十年發(fā)展,日聯(lián)科技已在無(wú)錫國家高新區自建4萬(wàn)余平米的現代化工廠(chǎng)和研發(fā)制造中心,并在深圳、重慶兩地建有全資子公司(工廠(chǎng)),在北京、沈陽(yáng)、天津、西安、鄭州、成都、武漢、青島、寧波、廣州、柳州、廈門(mén)、昆明、烏魯木齊等地設有辦事處。公司與美洲(美國、墨西哥、巴西、阿根廷)、歐洲(英國、德國、意大利、俄羅斯)、亞洲(東南亞、日韓、中東、土耳其)、澳大利亞、南非等全球多地代理商和分銷(xiāo)商合作,建立了銷(xiāo)售和服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)。產(chǎn)品已出口到60余個(gè)國家及地區。
電子元器件對供應鏈經(jīng)濟造成了日益嚴重的威脅。部門(mén)發(fā)布的最新報告稱(chēng),事件在過(guò)去10年里增加了200%多。由于利潤的驅使,除了仿冒的電子元器件之外,不法商販將翻新的IC等電子元器件作為原廠(chǎng)器件進(jìn)行銷(xiāo)售,也是器件的一個(gè)主要來(lái)源。
制假(仿冒)的電子元器件,由于其制造工藝和設備的限制,其性能和可靠性與正規原廠(chǎng)的產(chǎn)品相去甚遠;翻新的電子元器件,由于經(jīng)過(guò)多次焊接,長(cháng)期使用,翻新過(guò)程的損傷,其性能和可靠性衰退許多。不論哪一種元器件,都會(huì )造成整機產(chǎn)品的早期失效,或對產(chǎn)品穩定性、可靠性造成負面影響。
由于技術(shù)的改進(jìn),元器件的外形越來(lái)越逼真,數量越來(lái)越大,而且鑒別難度也日益增加。目視檢查幾乎已經(jīng)不能檢測到產(chǎn)品。因此鑒別可疑元器件需要通過(guò)專(zhuān)業(yè)測試儀器和手段進(jìn)行測評,如掃描電子顯微鏡檢查、X光透視、顯微切片、掃描電鏡/能譜、芯片開(kāi)封、掃描超聲顯微鏡、伏安曲線(xiàn)追蹤儀等。
傳統的破壞性物理分析(DPA)和失效分析(FA)受到其專(zhuān)業(yè)性、破壞性、時(shí)效性、成本等方面的限制,只限于少數科研機構、配置實(shí)驗設備和人力資源的企業(yè)采用,大多數企業(yè)沒(méi)有條件實(shí)行。
X射線(xiàn)原理:X光射線(xiàn) (以下簡(jiǎn)稱(chēng)X光機) 是利用一陰極射線(xiàn)管產(chǎn)生高能量電子與金屬靶撞擊,在撞擊過(guò)程中,因電子突然減速,其損失的動(dòng)能會(huì )以X射線(xiàn)檢測儀形式放出,其具有非常短的波長(cháng)但高電磁輻射線(xiàn)。而對于樣品無(wú)法以外觀(guān)方式分析之位置,利用紀錄X光檢查機穿透不同密度物質(zhì)后其光強度的變化,產(chǎn)生之對比效果可形成影像即可顯示出待測物之內部結構,進(jìn)而可在不破壞待測物的情況下觀(guān)察待測物內部有問(wèn)題之區域。
X-RAY射線(xiàn)的應用
a.使用目的:
金屬材料及零部件、塑膠材料及零部件、電子元器件、電子組件、LED元件等內部的裂紋、異物的缺陷分析,BGA、線(xiàn)路板等內部位移的分析;判別空焊,虛焊等BGA焊接缺陷,微電子系統和膠封元件,電纜,裝具,塑料件內部情況分析。
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